二手 KLA / TENCOR TF-2 #136452 待售

ID: 136452
晶圓大小: 8"
優質的: 1994
Wafer defect inspection systems, 8", 1994 vintage.
KLA/TENCOR TF-2是半導體工業先進的晶圓測試和計量系統。它是一種用於檢測、測量和分析具有高潛力的晶片的全自動解決方案,能夠高效地產生高質量的芯片。KLA TF-2使用先進的檢測和成像系統來提供一整套檢查、分析和計量工具。該系統利用高分辨率光學掃描和成像檢測納米級異常模式和缺陷。它還有一個飛行時間剖面儀和幹涉儀,提供高保真高度剖面儀,使它能夠檢測到小至0.5納米的規則和不規則地形。實時收集、分析、評估檢驗數據,提供快速準確的過程控制。TENCOR TF-2實現了對關鍵汙染、質量和產量數據的自動采集和分析,幾乎消除了處理和數據輸入錯誤。該系統包括用於比較同類型缺陷、用於全面特征識別、邊緣和輪廓測量、應變圖叠加和下沈測量以及應力和缺陷密度估計的高級軟件。TF-2還具有自動化的bin QC/QA、批控制功能和晶圓級最終審核功能。KLA/TENCOR TF-2在一臺機器中提供高級功能,使其成為工業和材料應用的相當完整的解決方案。它要求相對更快的檢查時間,改進產量和過程控制,精湛的準確性和可重復性,並降低總體擁有成本。其速度和可靠性使其成為高產半導體生產工藝中的首選。
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