二手 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OP 2600 #9200134 待售

KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OP 2600是一種晶圓測試和計量設備，設計用於提供半導體產品的精確、可重復的測量。系統使用集成的雙激光、白光相移幹涉儀測量半導體晶片上的廣泛參數，包括光刻CD、切線寬度、叠加配準等參數。該單元還能夠測量半導體器件的電氣特性。KLA OP 2600有幾個特點，使其成為測量各種參數的絕佳選擇。該機配備高分辨率CCD攝像機，可精確測量晶圓圖樣，以及功能強大的微處理器，可快速可靠地分析各種參數。該工具還包括一個模塊化的板表，可以容納幾乎任何大小或形狀的晶片，並且可以配備各種光學元件來測量不同的參數。TENCOR OP 2600使用多種軟件包來分析其產生的數據，包括圖像處理程序、電氣特性分析和叠加配準分析。該資產對用戶友好,並為用戶提供其生成的數據的各種圖形和表格表示。它還提供了多種診斷工具,以確保模型正常工作。THERMA-WAVE OP 2600是進行晶圓測試和計量的寶貴工具。它易於使用，並產生關於各種晶圓參數的可靠數據。它既可用於評估生產過程，也可用於研究和開發新的過程。設備緊湊耐用，快速準確地提供可靠的效果。