二手 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE Optiprobe 2600 #9212840 待售

KLA / TENCOR / THERMA-WAVE Optiprobe 2600
ID: 9212840
晶圓大小: 8"
優質的: 1995
Film thickness measurement system, 8" Handler type: 200 mm Open Upgraded SBC to Pentium III 600 MHz Increased HDD capacity to 6 Giga Non-pattern measurement Measurement tool: BPR, BPE, VAS 1995 vintage.
KLA/TENCOR/THERMA-WAVE Optiprobe 2600是一種先進的晶圓測試和計量設備,能夠對各種半導體晶圓表面的電性能波動進行高精度測量。該系統旨在實現測量過程的自動化,使其比手動顯微鏡的手動檢查更加高效和準確。KLA Optiprobe 2600配備了嵌入式視覺單元,有助於簡化操作過程並提供更好的效果。TENCOR Optiprobe 2600由三個模塊組成:成像模塊、測試儀模塊和測量模塊。成像模塊有一個CCD攝像頭,用於成像和檢查晶片表面是否有缺陷。測試儀模塊有一個測試室,能夠同時提供來自多個子測試儀位置的各種電氣測試。測量模塊是一個集成的測量解決方案,包括高效和準確的測試和計量操作所需的所有組件。THERMA-WAVE Optiprobe 2600平臺還配備了KLA WINTEST軟件,允許用戶自動化測試過程。WINTEST軟件可用於設置機器參數、控制測試過程、分析測量數據以及配置多個測試設置。此外,Optiprobe 2600設計為與業界標準的TENCOR S2K軟件完全兼容,使客戶能夠在不同領域使用相同的軟件。KLA/TENCOR/THERMA-WAVE Optiprobe 2600設計為提供準確的結果,高精度測量分辨率0.02 µm。它能夠測試多種晶圓類型,包括單層、雙層和多層晶圓。此外,KLA Optiprobe 2600適用於在要求最苛刻的生產環境中進行表面剖面測試和計量的工藝和資格監控。TENCOR Optiprobe 2600提供晶圓測試和計量方面的最高性能。它最大限度地提高測試和計量操作的效率,同時提供可靠和準確的測量。該工具非常適合探針、工藝工程師和其他半導體專業人員尋找一種簡化而有效的晶圓檢測方法。
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