二手 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B #9220005 待售

KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B晶片測試和計量設備為廣泛的晶片測試和計量應用提供了先進的能力,包括工藝開發、監控、故障檢測、缺陷識別、數據收集、晶片級預後、產量提高和晶片級分析。該系統具有高度靈活、可擴展和可配置的設計,能夠與各種底物配合使用,這些底物包括矽、移植物、砷、磷化銨等。它還支持直徑可達200毫米的晶片，精度為10µm。KLA OPTIPROBE 2600B由緊湊的大眾市場外形組成,旨在使測試和計量活動更輕松、更快、更便宜。單元組件包括預期調試子系統、測試模式自動化和一套全面的測試工具。預期調試子系統提供了具有電路缺陷定位、電路參數優化和故障分析等特點的單個晶片的詳細分析。測試模式自動化簡化了用於計量和校準測試的測試模式的優化，以獲得最佳結果。此外，TENCOR OPTIPROBE 2600B包括XY級移動、探針掃描、數字人機接口（HMI）、模糊邏輯處理器等各種測試工具的綜合範圍。OPTIPROBE 2600B具有高級掃描集采集機,可提供最多三個並發的非重叠掃描,以消除交換晶片和測試探針時所花費的時間。它還提供多達12個同時定位軸,精度達到+/-1微米,並為xy、z和theta軸測試步驟提供板載非線性補償。所有的測量結果都是使用Matlab數據記錄器捕獲的，允許將數據輕松傳輸到電子表格或其他分析程序中。此外,THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B附帶了一個嵌入式數據庫,這使得在更長的時間內更容易管理、歸檔和比較結果。總體而言，KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIBE 2600B晶片測試和計量工具是一種功能強大、用途廣泛、可靠的工具，可用於各種晶片測試和計量應用。其全面的特性和功能將有助於精簡大型晶片的開發、控制和分析。它還為用戶提供多達12個同時定位軸以進行精確測量，並為用戶提供一個集成的非線性補償資產以獲得平滑和精確的結果。內置的Matlab數據記錄器和板載數據庫使長期管理、存檔和比較數據變得容易。利用KLA OPTIPROBE 2600B提供的高精度和靈活性,用戶可以確保從制造的每個晶片中獲得可靠的測試和計量結果。