二手 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B #9364393 待售

ID: 9364393
優質的: 1995
Film thickness measurement system 1995 vintage.
KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B是為半導體器件制造專業人士設計的高性能、自動化晶圓測試和計量設備。它集成了精密光學、高級算法和自動運動控制,以確保測量半導體晶片的線距、特征尺寸、線緣粗糙度等關鍵電路特征的最高精度水平。KLA OPTIPROBE 2600B旨在利用掃描隧道顯微鏡(STM)技術的最新進展滿足對更高精度測量的日益增長的需求。TENCOR OPTIBE PROBE 2600B使用一系列自動化功能來管理常規晶圓測試和計量任務。它能夠掃描尺寸高達10厘米(4英寸)的標準CMOS晶片並捕獲精確的地形數據,從而能夠準確確定特征關閉規則。該系統還支持許多高級算法,如主成分分析(PCA),用於準確識別和量化各種特征和特性。該單元還包括一個集成光學顯微鏡,它允許對集成電路的各個層進行定量和無損測量。OPTIBE PROBE 2600B融合了運動控制方面的最新進展,提供了極其快速的掃描和測試功能以及廣泛的測量配置。它利用高速掃描技術和先進光學技術相結合,提供精確的分辨率和最小的漂移。機器可以自動對準光束,檢測設備行為的細微變化以及溫度的變化,從而可以在高溫測試環境中使用。THERMA-WAVE OPTIBE 2600B除了具有高性能測試和計量功能外,還提供多種用戶友好的功能。它配備了一個大的觸摸屏界面,可以讓用戶輕松輸入規格和檢查數據。直觀的圖形用戶界面使操作員能夠快速啟動、自定義和進行測試。它還包含了多種安全功能,包括保護外殼、緊急停止按鈕和可聽警報,以提供額外的安全保護。KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B是半導體器件制造專業人士尋求晶圓測試和計量更高精度和安全性的理想解決方案。KLA OPTIPROBE 2600B具有先進的光學、自動運動控制和廣泛的測量功能,是確保半導體器件盡可能高質量的寶貴工具。
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