二手 KOBELCO / LEO LTA #293642502 待售

ID: 293642502
Lifetime measurement system Iron concentration measurement Ample measuring / Indicating modes OX Film / Silicon interface.
KOBELCO/LEO LTA設備是一種最先進的晶圓測試和計量系統,旨在測量半導體晶圓的幾何和電氣特性。其主要應用是驗證符合規範和保證工藝穩定性,以及提供關於晶片到晶片變化的全面信息。該單元配備了兩個級,同時測量晶片的幾何特征(表面紋理和厚度)和電氣參數(電阻率和絕緣性)。第一階段對晶片進行多達16次物理測量,包括表面輪廓、尺寸和非導電材料,如氧化物或其他絕緣層。第二級對晶片進行精確的電氣測量,包括接觸電阻和絕緣電阻。該機器采用了獲得專利的雙重測試方法,允許對晶圓的幾何和電氣特性進行實時數據評估。這樣可以進行高吞吐量測試,減少測試時間並節省寶貴的生產時間。此外,該工具能夠自動檢測缺陷和微小的變化,幫助生產者保持過程的穩定性。設計了資產的可重復性和精確度。所有測量都是可重復和精確到微米內。該模型的精確可重復性也使晶片堆叠不影響測量精度。通過特殊算法進一步提高了設備的精確度,使接觸電阻測量達到了piciohm尺度。LEO是一個高效但功能強大的晶圓測試和計量系統。利用它的雙重測試方法和精確的重復性,這個單元可以快速和準確地測量晶圓的幾何和電氣特性。這樣可以確保過程的可重復性,並能夠更好地控制生產。此外,該機器的設計目的是通過只需一次通行證即可獲得準確的結果,從而最小化生產時間。
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