二手 KOBELCO LTA-500 #9025720 待售
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ID: 9025720
優質的: 1995
Wafer testing and metrology system
100 VAC, 15 A, 50/60 Hz
GP-IB option
Cable: 408JE DDK
1995 vintage.
KOBELCO LTA-500晶片測試和計量設備是一種用於快速評估半導體晶片電氣性能的精密系統。此單元非常適合測試準確可靠的結果至關重要的應用程序,例如極端溫度測試、電壓過低、泄漏電流和半導體封裝測試。該機采用高性能、高速成像技術,精確捕獲和分析晶片輪廓。這可以為用戶提供分辨率高達2納米(2nm)的蝕刻微觀結構的微觀信息。結合專用的圖像處理算法,LTA-500能夠在常規測試過程的一小部分時間內提供準確、可靠的結果。KOBELCO LTA-500還提供了多種動態晶圓測試和分析工具。其中包括晶圓地形輪、激光多普勒幹涉測量和晶圓鏡觀看器。Wafer Topography Wheel是一種專門設計的工具,用於在微觀尺度上測量特征,提供全面的測量,如特征高度、寬度、形狀和方向。激光多普勒幹涉測量工具提供晶圓表面運動的精確信息,從而能夠精確測量晶圓結構的變化。最後,waferscope viewer提供了晶圓表面幾何的全面視圖,使用戶既可以看到宏級特征,也可以看到微級細節。LTA-500晶片測試和計量工具提供了一種快速、可靠和精確的手段來測試各種晶片的電氣性能。KOBELCO LTA-500擁有強大的工具套件和廣泛的功能,是需要準確、全面和高效的晶圓測試和計量解決方案的人的理想資產。
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