二手 KVM 4030C #293651246 待售

KVM 4030C晶圓測試和計量設備是最先進的晶圓測試和計量系統，非常適合半導體和平板應用。該單元提供了從樣品測試到報廢的整個晶圓測試過程中可靠、準確和可重復性的數據。4030C支持電壓和電流探測功能。這允許同時測試兩個參數。該機器還提供了多頻多相組合選項，以便更準確可靠地收集數據。這使得一個全面的測試和計量工具。KVM 4030C包括探測室、測量塊、信號處理器單元和掃描電子等各種子系統。探測室配備了自動裝卸資產，可更快地裝卸晶片。測量塊包含對齊階段、多頻和相位控制系統以及多通道計算機控制接口。信號處理器單元是一種高速數字數據采集模型，能夠準確準確地測量電壓和電流參數。掃描電子設備包括CCD攝像頭、數字信號處理和XY表,可實現精確高效的晶圓掃描功能。4030C是為提高吞吐量和精度而設計的,能夠測試從5英寸到12英寸的各種晶圓尺寸。它的精密級和帶有伸展手指的探頭杯允許可調探頭，並且使用戶能夠測試接近邊緣的區域。它還提供了40-100個探測器之間的自動探測。該設備能夠從240 nm到850 nm的波長掃描，多相和多頻率值高達5 kHz。KVM 4030C提供易用性,並與各種軟件程序和控制語言兼容,例如C++、C#、WinForms、安捷倫的BenchLink Pro和Measurement Studio,以便於編程、測試和數據收集。綜上所述，4030C晶圓測試和計量系統是一個全面的，易於使用的單元，非常適合半導體和平板應用。它提供各種晶圓尺寸的高精度、可靠數據,並且與各種軟件程序和控制語言兼容。