二手 LEHIGHTON 1510B SA #9083756 待售

LEHIGHTON 1510B SA是LEHIGHTON Technologies Corporation開發的晶圓測試和計量設備。它旨在提供有關晶片特性的全面信息,如地形、表面光潔度和晶粒結構。它具有靈活的應用範圍,因為它能夠以2D和3D高精度進行測量。該系統專為各類晶片設計，適用於短期和長期測試項目。高度可靠,高度測量精度高達3.5 nm, x和y-dimensions精度高達4.3 nm。單元的行進範圍由級坐標機械手控制，測量分辨率可設置為0.1 μ m。電腦機基於Windows 10，並配有觸摸屏顯示和控制面板。1510B SA具有多種功能,使其成為測試晶片的理想選擇。它能夠測量晶圓地形、表面光潔度、晶粒結構和其他特征。它提供高達20 μ m/s的高掃描速度和快速定位,以快速測試許多不同的晶片。此外,它還支持非接觸式計量,用於表面粗糙度和粗糙度測量。該工具還可以用於逆向工程，可以集成到完整的過程控制資產中。它能夠產生一系列圖像，例如用於FIB-SEM的圖像，包括原子力顯微鏡（AFM）、掃描電子顯微鏡（SEM）和共聚焦顯微鏡。該模型還配備了自動校準器，為更好的晶圓測試和分析提供實時分析和反饋。LEHIGHTON 1510B SA還支持非接觸晶圓測試和追溯。它最多有五個可編程晶片方向，可以根據用戶的需要進行設置。設備配備了數據分析的統計軟件，可以生成3D圖像，幫助晶圓評估。總體而言，1510B SA是一種高性能晶片測試和計量系統，旨在提供有關晶片特性的全面信息。它能夠測量各種特性，提供高的掃描速度，並配有數據分析的統計軟件。這使得它非常適合逆向工程和過程控制系統,以及提供可追蹤性和非接觸式測試。