二手 LEHIGHTON 1510C-RP #293608868 待售

LEHIGHTON 1510C-RP晶片測試和計量設備是一種設計用於半導體晶片加工和檢驗的高精度計量工具。該系統使制造商和測試人員能夠分析和測量晶片的各種特性，以及檢測汙染和缺陷。1510C-RP是一個全自動的獨立單元,可以精確檢查和分析直徑不超過12 ″ （300毫米）的所有類型半導體晶片的物理特性、電氣特性和光學特性。它結合了一系列專門的傳感器和光學顯微鏡以及數據采集機，可以快速準確地測量晶圓的各種特性，而無需任何操作員幹預。LEHIGHTON 1510C-RP支持一系列晶圓探針和基材，如氧化矽、氮化矽、碳化矽、摻氧多晶矽和重金屬氧化矽。此外,該工具可配置為檢測一系列缺陷和汙染物,如顆粒、殘留物、汙染、缺陷等。這樣可以確保高質量的結果,並確保晶片安全以便進一步處理。1510C-RP還支持一系列全面的測試模式，包括無損和破壞性測試以及各種故障分析技術。LEHIGHTON 1510C-RP包括兩個獨立且可互換的平臺，一個用於檢查，一個用於表征。檢查平臺執行最基本、最關鍵的測試任務，如焦點高度和臨界尺寸測量，而表征平臺運行更專業的測試，如電容測量和載波移動性測試。這允許用戶配置和靈活調整資產以適應其應用程序的特定需求。此外,1510C-RP還提供了多種功能來簡化測試和計量過程,例如自動晶圓處理、連續性檢查、自動數據采集和遠程訪問控制。這有助於減少總體測試時間並提高準確性。LEHIGHTON 1510C-RP是尋求可靠、高性能晶圓測試和計量模型的制造商、測試人員和研究人員的完美解決方案。其廣泛的特性和多功能功能為基本晶圓檢測和復雜的分析任務提供了理想的平臺。此外，它的成本效益和簡單的操作使它成為實驗室和生產設施的一個有吸引力的選擇。