二手 LEHIGHTON 1510C #9101496 待售

LEHIGHTON 1510C晶片測試和計量設備是一種生產級晶片測試系統，用於檢測、分析和測量半導體晶片上的表面缺陷。這一單元利用高速、基於激光的檢測技術，提供準確和可重復的測量。1510C先進的激光光學器件賦予其卓越的成像性能，提供了250 nm的最大表面缺陷檢測分辨率。此外,機器的數碼相機功能使其能夠以100,000像素分辨率捕獲任何缺陷的清晰圖像。此工具具有高度模塊化的設計,具有許多功能,使其成為生產級測試應用程序的一個有吸引力的選擇。它的主要部件包括一個激光頭、兩個目標、一個聚焦臂、一個光學機械手和一個電動晶片級。這些元件被設計成協同工作來檢測和分析晶圓表面上的任何缺陷。LEHIGHTON 1510C還配備了多種計量軟件工具。這些工具使用戶能夠校準其成像系統並準確測量任何檢測到的缺陷。該資產支持不同的測量方法，包括光學輪廓法，這是生產級工藝控制應用的重要能力。1510C模型還提供了一整套自動化晶圓測試功能。這些功能包括自動對焦設備、自動識別系統和高級缺陷分類功能。這些特性使得識別和分析缺陷模式更加容易，進一步提高了測試過程的效率。總體而言，LEHIGHTON 1510C晶圓測試和計量單元為生產級晶圓測試提供了可靠的平臺。它的多用途組件、自動化功能和計量軟件工具有助於簡化晶圓測試過程,使其成為搜索高效缺陷檢測解決方案的任何組織的一個有吸引力的選項。