二手 LEHIGHTON 1510E-RP #9288297 待售

ID: 9288297
Non-contact measurement system.
LEHIGHTON 1510E-RP是一種晶圓測試和計量設備,設計用於對薄膜結構進行先進和準確的測量。它有一個模塊化的方法,支持各種電氣、光學和聲學測量,以及超高真空(UHV)兼容的去處理能力。它具有基於prober的平臺,該平臺構建在3軸X-Y-Z舞臺上,用於精確定位。Prober與一個先進的計量立方體協同工作,共同提供各種測量和參數的訪問。先進的計量立方體將實驗室級原子力顯微鏡(AFM)與掃描電子顯微鏡(SEM)和橢圓偏振儀結合在一起。這種組合可以對各種薄膜結構進行定量測量,包括沈積密度和表面覆蓋率。雖然SEM和AFM對薄膜的結構提供了寶貴的洞察力,但橢圓偏光計允許用戶更精確地測量薄膜厚度。此外,這是系統配備了STM尖端爐,允許UHV兼容廢料處理樣品。1510E-RP單元能夠進行數據采集、校準和分析,從而對薄膜結構進行全面分析。該機配備了多種軟件工具,用於廣泛基板的數據處理和分析。它可以與各種軟件實用程序集成,以實現快速高效的處理,幫助為各種薄膜相關實驗提供快速的見解和結果。LEHIGHTON 1510E-RP晶圓測試和計量工具具有用戶友好的界面,具有直觀的菜單和圖形顯示。憑借其自動化功能,它易於設置和使用,使得這一資產適合初學者和專家。此外,它可以通過以太網連接遠程操作,使其成為研究人員和商業用戶的通用工具。總體而言,1510E-RP晶圓測試和計量模型是一個用戶友好、模塊化和多用途的薄膜結構分析平臺。以其復雜的軟硬件組合,對各種薄膜相關實驗進行了綜合分析。它既適合專家又適合新手用戶,可以很容易地與多種軟件和遠程操作工具集成。
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