二手LEITZ(晶圓測試和計量)待售

LEITZ是在半導體工業中廣泛使用的晶圓測試和計量設備的領先制造商。它們的產品範圍包括類似物，如其高級光譜橢圓偏光計（ASE），為薄膜表征提供精確的測量能力。這些系統提供了高速、無損檢測和精確表征膜厚度、折射率和表面粗糙度等優點。來自LEITZ的一個流行的晶圓測試系統是LIS（Leitz Integrated System），它結合了包括光譜橢圓偏振法、反射法、散射法等多種測量技術。LIS系統能夠進行全面的晶圓檢查和表征，確保半導體器件的高質量和可靠性。為了計量的目的，LEITZ提供MPV-SP（多用途光譜反射計）。該系統為薄膜厚度、折射率和臨界尺寸提供了快速、準確的測量能力。MPV-SP在半導體制造中常用於過程控制和優化。LEITZ還提供了SP（Spectroscopic Ellipsometer）系列，它為薄膜厚度和光學常數提供高精度的測量能力。這些裝置是為滿足各種晶圓制造工藝的苛刻要求而設計的。總體而言，LEITZ晶片測試和計量機以其先進的技術、精確的測量和可靠的性能而聞名，幫助半導體制造商提高產量，改進工藝控制，滿足業界不斷提高的質量標準。