二手 LEO GIKEN ASM-25B #9156513 待售

LEO GIKEN ASM-25B是一種晶圓測試和計量設備，旨在促進精確的晶圓計量。該系統利用微四點探針技術精確測量晶片的電性能，如電阻、接觸面積和電阻均勻性。由於四點探針插入晶片，可以一次掃描一個區域長達兩英寸，導致測試時間比市面上其他晶片測試系統更快。該設備具有獨立的環境,機櫃內的受控濕度為50%,可進行精確的測量並提供可重復的結果。待測材料可安裝在試樣臺上，然後以每秒5至100毫米的可調速度進行掃描。ASM-25B的測試階段需要最小的操作員參與，因為測量是通過實時分析的集成機制即時進行的。機器的數據收集以各種格式進行,如jpg、bmp、gif和tif。在進行晶圓測試和計量時，由工具渲染和測量電氣特性、電流、電壓和電阻方面的輸出。LEO GIKEN ASM-25B還提供了多種其他功能，如氣墊機構，在測試精致晶片時提供溫柔的觸感。此外，晶圓支架可以被裝備，以防止振動在測試過程中。IP65-protected鍵盤和顯示器增強了用戶友好型資產的特性,因為這些特性確保了模型能夠在幾乎任何環境中得到積極使用。總體而言，ASM-25B結合了準確性、可靠性和實用性，以便在晶圓計量中提供領先的結果。設備提供的精確和快速的測量使其成為任何實驗室或半導體生產線的理想選擇。