二手 MDC CSM #77224 待售

MDC CSM（Model Driven Control Chip Equipment Metrology）是由EWI Advanced Metrology&Manufacturing Technology開發的晶圓測試和計量系統。該單元是一個先進的精密計量平臺，由集成的可編程計量計量臂、試點檢驗和自動化過程控制軟件以及圖像分析和測量庫工具組成。該機的計量臂由一個強大的靜態和動態5軸坐標工具組成，具有數據采集和控制（DAC）的高多功能性。另一方面,試點檢查資產旨在幫助用戶訪問流程數據指標、測試平臺性能,並提供全面的流程控制。利用其最先進的組件，該模型為晶圓測試和測量應用提供了可靠、高精度的解決方案。設備的數據采集控制（DAC）機制允許用戶控制探頭在晶圓表面的掃描速度和方向。這有助於獲得用於進一步分析和處理的可靠測量。該系統還包括一個自動掃描機制，通過允許用戶定義和編程步長，為用戶提供進一步的靈活性。CSM單元還具有高級圖像分析庫工具。該庫配備了自動化的圖像分析和測量工具，以及基於圖像的對象識別和評估算法。這些功能使用戶能夠自動評估測試結果，並以快速準確的方式獲得關鍵的測量結果；從而減少了獲取可靠數據所需的時間。此外,機器還提供各種軟件,用於提取測量結果並將其精確映射到CAD模型。此外，自動化的過程控制軟件允許用戶為各種晶圓過程快速編程工具，以及設計定制的測試協議。最後，資產附帶了廣泛的數據管理和統計分析工具，旨在支持當前和未來的數據分析需求。總體而言，MDC CSM是一個全面的晶圓測試和計量模型，為用戶提供強大的數據采集和控制能力。憑借其最先進的組件,該設備提供了卓越的準確性、可靠性和多功能性,以支持廣泛的晶圓測試和測量應用。