二手 MICRO-TEC Z-CHECK 500 #9010808 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
ID: 9010808
Non-contact thickness measuring system
Measuring range: 10mm
On screen images
Features:
(3) micron typical accuracy in Z axis measurement
White light source
Granite base
Monochrome monitor
Specifications:
Magnification: x50. Options available
Digital readout: 0.001mm (0,0001inch)
Projector lamp: 6V. 1.2 Amp. Tungsten
Surface illuminator: 6V. 1.2 Amp. Tungsten
Max sample height: 10mm (0,4 inch)
Throat depth: 240mm (9.5 inch)
Granite base size: 500mm x 500mm (20 x 20 inch)
CTV: 1/3”
CCD Camera: 9” monochrome monitor
Power: 240V AC 50/60Hz. - 110V AC 50/60Hz. (optional).
MICRO-TEC Z-CHECK 500是一種最先進的晶圓測試和計量設備,專為最新的晶圓操作和測量技術而設計。該系統采用的專利技術既緊湊又輕巧,使廣大用戶都能使用。其堅固的設計提供了卓越的準確性和可靠性,每次測試都能提供精確的結果。Z-CHECK 500晶圓測試計量單元是一種模塊化機器,能夠測試12英寸或5英寸晶圓,最大厚度為7mm。該工具可以測量多種特性,包括薄膜厚度和電池密度,以及更復雜的特性,如非均勻性、地形和叠加。光學器件的精確使用使資產能夠從背面測量晶片,而無需基板支架。該模型具有多種功能,例如將測試晶片固定到位並提供運動控制的探測站、用於釋放晶片的晶片處理單元以及用於數據可視化的顯示單元。MICRO-TEC Z-CHECK 500還包括一個Advanced Wafer Metrology Kit,它是一個功能強大但用戶友好的工具,附帶各種映射和測量應用。此套件允許用戶定義各種參數和條件,從而使Z-CHECK 500能夠測量各種微結構曲面特征。該設備還為用戶提供了用戶友好的圖形用戶界面(GUI)。GUI提供了多種方便的工具,包括直觀的下拉菜單,允許用戶快速查找所需的工具。此功能還允許用戶查看保存的數據以及診斷、過程和測試結果。MICRO-TEC Z-CHECK 500晶圓測試和計量系統是那些希望將晶圓分析提升到一個新水平的人必須具備的設備。該設備采用高級功能,即使是最復雜的測量也能提供精確可靠的結果。
還沒有評論