二手 MICROTRAC S3500 #9215363 待售
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已售出
ID: 9215363
優質的: 2010
Micron particle counter system
With computer
Power cord
Tri-laser system
Particle size: 0.02 to 2800 microns
Standard range: Wet: 0.24 to 1400 um
Precision:
CV = 0.7% Spherical glass beads D50 = 642 micron
CV = 1.0% Spherical glass beads D50 = 56 micron
CV = 0.6% Spherical latex beads D50 = 0.4 micron
Lasers: Wavelength 780 nm
Power: 3 mW Nominal
Detection system: (2) Fixed photo-electric detectors
With logarithmically spaced segments
Optimal scattered light detection
0.02-163 Degrees using (151) detector segments
Data handling:
Data storing format: ODBC
Encryption: Microsoft access databases
Data integrity: FDA 21 CFR Part 11
Typical analysis time: 10 to 30 seconds
Environmental:
Temperature: 10 to 35°C
Humidity: 90% RH
Maximum storage temperature: -10° to 50° C
Pollution: Degree 2
Physical case: Steel and impact resistant plastic
Exterior surfaces: Corrosion resistant paint or plating
Dry operation: 100 psi (689 kPa)
Maximum pressure 5 CFM at 50 psi (345 kPa)
Minimum flow rate
Moisture / Oil
Vacuum: Exceed 50 CFM
Power:
AC Input: 90-132 VAC, 1 Phase, 47 to 63 Hz
200 to 265 VAC, 1 Phase, 47 63 Hz
Power consumption: 10 to 30 Seconds
2010 vintage.
MICROTRAC S3500是一種功能強大、用途廣泛的半導體工業晶圓測試和計量設備。它設計用於對2「到8」的晶片上的點、線和幀掃描進行高速全晶圓測量。該系統利用先進的光學技術和精密的圖像處理來增強測量。MICROTRAC S 3500具有多種工具，包括晶圓測試和計量單元、缺陷檢查和審查以及晶圓過程監測。S3500的主要重點是表征標準和先進基板和材料的非常具體的電性能，如電阻率、移動性和電容。另外，S 3500可以測量晶片的表面和厚度，以及識別微妙的缺陷和變化。該機器能夠生成有關晶圓質量的準確數據以及其他摘要,如原理組件、群集和回歸。高級用戶界面為操作員提供了廣泛的可自定義選項,允許對工具進行完整的自定義。MICROTRAC S3500還具有快速映射晶圓圖案或結構的診斷功能。這包括區分晶片上可能存在的兩種缺陷的能力。此外,可視化選項還提供了方便的成像功能,以及比較來自兩個不同晶片的地圖的功能,以識別關鍵的工藝差異。最後，該資產使用統計過程控制算法對整個晶片進行自動測量，定義和分析過程變化。與其他現有技術相比，MICROTRAC S 3500提供了晶圓測試和計量的最高吞吐量。該模型的最先進的光學技術提供了卓越的精度，先進的圖像處理算法提供了快速準確的結果。該設備易於安裝、維護和配置,可為晶圓測試和計量需求提供經濟實惠的解決方案。
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