二手 MICROTRAC S3500 #9222240 待售

MICROTRAC S3500是一種最先進的晶圓測試和計量設備,用於測量半導體晶圓的物理、電氣和幾何特性。該系統使用一整套表征技術，以高分辨率和精確度精確測量晶圓特征。這些技術包括3 D光學散射顯微鏡、電容剖析（CP）和電掃描顯微鏡（ESM）。該單元高度集成的軟件功能使測量和分析過程自動化,減少了用戶所需的工作量,最大限度地降低了成本,並最大限度地提高了質量保證。機器的用戶友好的軟件界面使得先進的計量和測量過程簡單易行。對於光學散射顯微鏡,MICROTRAC S 3500具有自動圖像分析功能,可快速準確地測量地形、表面粗糙度、步高、晶界和邊緣曲率的輪廓。集成CP技術對晶片表面應用電壓柵格模式，收集與氧化矽層厚度、晶片地形、氮化矽柵極電介質輪廓有關的電氣數據。然後,這些數據有助於提供有關表面質量、均勻性、特征形狀和其他關鍵設備參數的重要信息。ESM技術使用掃描方向測量整個表面的電導率，並獲得各種缺陷和不規則性的數據。該技術還具有自動缺陷檢測功能，能夠高精度分析圖像和檢測位移。總體而言，S3500是先進晶圓測試和計量的理想解決方案。該工具允許用戶快速準確地分析和表征半導體晶片，並提供高度準確的數據，可用於優化制造過程、提高產品質量和確保設備可靠性。