二手 MITUTOYO SJ-402 #9227881 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
MITUTOYO SJ-402晶圓測試和計量設備為一系列半導體測試和測量應用提供精確的測試和測量能力。該系統采用X-Y高速掃描顯微鏡級,在4英寸晶圓上進行成像和測量,並采用低振動1軸z表,便於3D-leveling和AFM測量。此外,該單元還包括一個用於快速基於圖像的分析和測量的自動圖像處理和分析界面,以及一套可靠的自動測試和測量外圍設備。機器的成像和測量功能為高精度圖像捕獲和分析提供了先進的體系結構。這使得它適用於微創和微觀結構的測試和分析。功績圖測量硬件設計用於電阻、電容和電感的精確探測和測量。該工具還支持抖動和脈寬分析以及其他高頻參數。SJ-402資產提供了強大的圖像處理和分析功能,這些功能經過了可靠的優化,以實現精度和精確度。該模型的自動圖像處理和分析界面利用專用算法進行模式識別、特征提取、魯棒圖像分割、掩碼診斷、周期性、精確對齊以及其他功能來實現分形計量。強大的圖像穩定功能使設備能夠考慮背景變化。該系統包括一套自動化的測試和測量外圍設備,以方便準確和快速地測量電氣參數。該單元包括自動電阻測試儀、電容橋、電感分析儀、AC/DC高分辨率電流表和精密調平儀等。這些組件能夠精確測量各種電氣參數,設計用於自動測試設備和一系列電氣探頭。靈活的機器軟件體系結構使定制和參數化測量能夠快速準確地進行。該工具包括一個用戶友好的視覺界面,用於導航圖像工具和數據。直觀的用戶界面允許快速設置和參數調整,還有助於為特定應用程序設計最佳系統。總體而言,MITUTOYO SJ-402晶圓測試和計量資產為快速測試和測量各種材料和電氣元件提供了可靠和通用的平臺。該模型非常適合半導體測試和測量應用,提供準確的電氣參數測量和精確的成像能力。
還沒有評論