二手 N&K 1512 #293755557 待售

N&K 1512是一種精密晶片測試和計量設備，設計用於測量和分析範圍廣泛的半導體晶片和薄膜。該系統由一系列組件組成，這些組件共同提供實驗室和工業應用中的綜合計量能力。1512是由一個兩軸分級單元組成，可用於精確和精確地將晶片定位在所需的位置，另外還有一個大型高分辨率成像機，能夠拍攝晶片的大表面積。此成像工具能夠檢測尺寸為5nm的特征。該資產的相機部分能夠捕捉彩色光學和單色偏振光圖像，從而可以進行各種不同的測量。此外，還可用於檢查晶圓上的缺陷和均勻性。該模型的成像元件進一步補充了一個AFM（原子力顯微鏡）模塊，該模塊可用於測量晶圓表面的地形，提供垂直和橫向特征大小和形狀。N&K 1512還配備了光譜模塊，用於測量薄膜和晶圓厚度以及折射率。它可以測量低至1納米的薄膜厚度和低至1.4的折射率。該系統的設備Analyser組件使用戶能夠對晶片執行各種不同的測量,包括片狀電阻、電容電容、厚度、傳輸和電阻率測量。分析器組件得到高級軟件包的補充,該軟件包為數據輸入和管理提供了直觀的界面,並為各種測試和分析過程提供了全面的圖形輸出。總體而言，1512為半導體晶片和薄膜提供了全面的測試和計量解決方案。該設備的綜合成像能力，加上其分析儀組件和軟件包，使用戶能夠快速準確地測量晶圓上的各種參數。這種組分組合使得機器非常適合實驗室和工業應用。