二手 N&K 1712-RT #9312850 待售

N&K 1712-RT是一種最先進的晶圓測試和計量設備,設計用於晶圓材料的快速、準確和無損測試。它具有多種模塊和掃描技術，包括原子力顯微鏡（AFM）和光學幹涉測量（IF），以測量各種參數，包括應變、應力、缺陷密度、缺陷定位、沈積厚度和波前。通過分析這些數據,用戶可以準確了解晶片的性能以及可能導致故障的任何潛在可靠性問題。1712-RT是一個能夠跨多個區域運行的綜合系統,在一個單元中具有多個模具容量。它提供了在不同掃描參數和示例類型之間快速切換的功能。該機器可以用最小的樣品制備測試薄晶片樣品和厚晶片樣品。該工具通過無損方法有效地測量晶片邊緣到背面的各種參數。N&K 1712-RT具有直觀的圖形用戶界面來調整設置和存儲結果。它具有高級統計分析套件,允許用戶以多種形式查看結果。此外,該資產還提供各種連接選項,使遠程監視和跨多個數據集執行數據分析成為可能。該模型提高了吞吐量、準確性和可重復性。利用大面積和精密AFM掃描技術對晶片樣品進行地形檢測，並從表面測量各種參數。這有助於建立更全面的晶片性能視圖,幫助客戶為其應用選擇性能最好的晶片材料。1712-RT具有頂級光學設備、掃描平臺和組件。利用高分辨率相機和專有掃描算法，快速準確地檢測晶圓表面的缺陷和其他異常。該設備還具有存儲和分析大型數據集的能力，使用戶能夠研究歷史和實時的各種參數。N&K 1712-RT是一種可靠、高質量的晶圓材料測試和計量系統。它具有快速準確測量、存儲數據集、以多種形式分析結果以及檢測晶圓表面缺陷和其他問題的功能。它的準確性、可重復性和吞吐量都是一流的,對於需要滿足其嚴格要求的可靠結果的用戶來說,這是一個極好的選擇。