二手 N&K 5700CDRT #9247004 待售
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ID: 9247004
優質的: 2005
Resist thickness measurement system
For photomask
Broadband spectrometer
Spot size: R 50um, T <400um
Spectral range: 190-1000nm
Trench profile
Patented micro-spot measurement technology
All-reflective optical based system
Square masks, 5"-6"
Phase, TR
2005 vintage.
N&K 5700CDRT設備是一種最先進的晶圓測試和計量系統,旨在對晶圓地形進行極其精確的測量。這臺先進可靠的儀器提供了有關晶圓地形的全面數據,如表面粗糙度、步高、晶粒尺寸等參數。5700CDRT晶圓測試和計量單元基於掃描型偏轉測量技術。這種創新的方法使機器能夠高效快速地精確測量晶片的各種地形特征。該工具可以測量各種地形特征,如表面粗糙度、臺階高度、梯田等。N&K 5700CDRT配備高速掃描鏡,在光束路徑內快速移動,以精確測量晶圓的各種地形特征。5700CDRT晶圓測試和計量資產還利用先進的激光幹涉測量模型生成極其可靠和精確的地形數據。該設備結合了離軸和軸上幹涉測量,以準確分析被測樣品的波前輪廓。利用這一先進技術,N&K 5700CDRT可以同時測量晶圓表面的粗糙度和高度,並以1-2納米的出色分辨率給出結果。而且,5700CDRT是一種極其方便用戶的設備。它具有易於使用的觸摸面板界面,使用戶能夠快速設置系統,調整參數,並以最小的努力獲得詳細的結果。除了用戶友好的界面外,該設備還支持其他通信接口,如以太網或RS 232。它還具有軟數據記錄功能,便於下載和分析測試結果。總體而言,N&K 5700CDRT是一種可靠和可靠的晶圓測試和計量機器,可提供精確和精確的晶圓地形測量。利用先進的掃描偏轉測量技術,可以快速可靠地測量晶圓表面的各種地形特征。此外,它還帶有一個直觀的用戶界面,這使得它易於操作。總而言之,這種工具是以高效準確的方式測量晶圓地形特征的絕佳工具。
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