二手 NANO SYSTEM 3025 CIS #9153476 待售

NANO Equipment 3025 CIS（Compact Inspection System）是為制造半導體芯片而設計的高性能晶圓測試和計量單元。這臺機器的研制是為了能夠對小型和新技術進行有效和可靠的測試，例如晶圓、集成電路（IC）和薄膜晶體管（TFT）。工具的工具用於測量這些元件的電氣特性，如電阻、電容和電流泄漏。3025 CIS旨在以高精度和高速度進行測量,並幫助減少人員時間和成本。其精度能夠在不同部件（包括尺寸小於0.03毫米的組件）上進行高精度的測量。與其他檢查系統相比，這一資產擁有CCD數碼相機和LED組合光學顯微鏡，3-D聚焦進一步提高了測量精度。該裝置還配備了檢測產品的高靈敏度激光和測量裝置。此功能通常用於檢測組件上的任何異常區域或缺陷。例如，它可以檢測晶圓上的晶界、電短褲和任何其他異物。它還具有識別空隙、裂縫和戰爭的能力。NANO Model 3025 CIS具有直接的計算機通信，具有用戶界面，讓用戶完全控制設備的運行。它能夠存儲和召回配方以及測試參數,以獲得更好的性能。而且該系統與C、C++等不同的編程語言高度兼容，非常適合開發和優化生產流程。該設備還提供了強大的功能，如其內置的數據記錄器和與其他檢查系統相輔相成的能力。此外,該設備還配備了直觀的觸摸屏面板,並與數據庫互連,以獲得更好的性能。最後,完全符合IPC-A-610E、IPC-6010、ISO 9001：2015、ANSI/ESD S20.20、J-STD-001和UL/IEC/EN 6238等幾項質量測試標準。總體而言,3025 CIS是一種多功能晶圓測試和計量機器,其內置功能可實現更高的精度。它是半導體元件質量控制和生產開發過程的理想設備。