二手 NANO SYSTEM NVM-3025 CIS #9153463 待售
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ID: 9153463
Surface profiling system
Includes
(1) Vacuum gauge
(1) AF Filter
(1) Regulator
(1) Filter regulator
(1) Circuit breaker
(1) Solid state relay
(2) 2-Phase micro step drive
(1) IO opto-isolation PCB board
(2) Motion controllers
(2) Power supplies.
NANO Equipment NVM-3025 CIS是一個晶圓測試和計量系統，旨在牢記精確計量的商業和工業要求。由NANO Unit制造，這款三位一體的執行者能夠同時進行半導體晶片的低級和高級測試和計量。NVM-3025 CIS具有許多功能,使其非常適合許多應用,包括：高分辨率成像：NANO Machine NVM-3025 CIS旨在提供高達每像素5 μ m的圖像分辨率,從而能夠精確檢查半導體器件。這可以用於從分析晶體管柵極長度到表征蝕刻深度的所有方面。自動表面粗糙度特征：此工具能夠在短短幾秒鐘內測量諸如表面粗糙度、表面拓撲和厚度等參數。這使其成為過程控制和缺陷分析的理想工具。高速掃描：NVM-3025 CIS直觀界面和高速掃描可以在18秒內執行晶圓掃描、分析數據並提供結果。此功能使用戶能夠快速識別流程優化、嚴重缺陷檢查和其他應用程序的問題。多工具組合：NANO Asset NVM-3025 CIS可以接受多階段組合，方便復雜的計量任務。該模型可與多種專門的工具一起使用，包括表面粗糙度profilers、顯微鏡系統、幹涉儀等，以允許廣泛的測試能力。多級微觀控制：NVM-3025獨聯體使用多級微觀控制系統，以促進準確的計量結果。該設備能夠精確操作和測量關鍵參數，從而使系統能夠提供準確和可重復的結果。質量保證自動化：NANO Unit NVM-3025 CIS采用自動化協議編程，有助於晶圓級測試數據的質量保證。健壯的機器可以實時分析結果，在檢測到異常時立即提醒人員。NVM-3025 CIS是半導體晶片精密計量的理想選擇。它具有高分辨率的成像、快速的掃描速度以及經過精細調整的自動化協議,使其成為生產現場的寶貴工具。
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