二手 NANOMETRICS Atlas II+ #293636675 待售

NANOMETRICS Atlas II+是一種晶圓測試和計量工具，利用先進的光學和電子技術來測量表面地形、氧化物厚度和電阻率等半導體晶圓性質。該系統具有檢測和分析多達8英寸晶片的能力，是設備開發和先進工藝控制的需要。該系統由一個最先進的計量平臺組成，其中包括一個自動x-y掃描儀、一個成像顯微鏡和高性能激光傳感器。X-y掃描儀允許晶片在顯微鏡級的精確定位和測量頭的精確對準。一系列成像目標使用戶能夠獲得晶圓上不同級別的詳細圖像。先進的激光傳感技術測量膜和薄膜厚度，以及晶圓上可能肉眼看不到的地形細節。所有測量都以微米為單位，並作為數字數據點存儲。這有助於快速評估氧化物厚度、臨界尺寸和電阻率等參數。Atlas II+隨附的軟件顯示圖像、數據圖和計量過程控件。它還包括自動聚焦算法，以簡化測量過程和最小化操作誤差。該系統開辟了晶圓測試和計量的可能性世界。借助NANOMETRICS Atlas II+,設備開發人員可以快速發現問題並快速進行更正,從而減少生產時間和成本。高級過程控制功能有助於確保批量生產運行符合規範要求。