二手 NANOMETRICS FLX F6 #172531 待售

NANOMETRICS FLX F6是一種先進的晶圓測試和計量設備,具有靈活的硬件體系結構,可提供卓越的檢測和計量性能。它具有一種獨特的、基於圖像的自動檢查方法,用於檢測不可見或間歇性缺陷。它使用高分辨率的CCD相機快速捕捉晶片的橫截面，然後使用先進的算法來檢測和分類任何存在的缺陷。它還納入了各種分析工具，為用戶提供關於其樣本的精確和精細的數據。該系統采用了一系列強大的圖像分析和計量工具，為用戶提供了可靠、可重復的結果。它利用先進的算法對缺陷進行檢測和分類,從而實現快速、精確的識別。FLX F6還支持多種測量和分析功能，如表面粗糙度、粒徑和通過/失敗分析。該設備還具有許多其他功能,可確保用戶獲得盡可能高的性能。它包含一臺先進的光學機器以提高圖像質量和分辨率，以及自適應圖像處理功能來優化每個樣品的性能。NANOMETRICS FLX F6還包括一種獨特的非觸摸方法，無需修改樣品並消除表面損傷。該工具還非常方便用戶，具有用戶友好的圖形用戶界面和與每個應用程序相關的高級預編程圖像庫。FLX F6是完全自動化的，可以遠程操作，允許用戶從遠處監視進程。該資產還與各種軟件包兼容，便於集成到現有系統中進行進一步分析。總體而言，NANOMETRICS FLX F6是一個全面的晶圓測試和計量模型，提供精確的晶圓檢驗和計量分析。它既適用於研究，也適用於工業應用，其先進的功能確保用戶獲得最佳的結果。