二手NANOVEA(晶圓測試和計量)待售

NANOVEA是晶圓測試和計量設備的領先制造商。這些系統用於測量和分析晶片的物理和機械性能，晶片是用於制造電子器件的半導體材料的薄片。NANOVEA晶片測試單元的關鍵優點之一是精度和精確度。這些機器使用手寫筆剖面圖、納米壓痕和劃痕測試等先進技術來提供高度準確和可靠的測量。它們可以分析表面粗糙度、厚度、硬度、附著力和摩擦等特性。NANOVEA晶片測試系統的一個例子是ST500，它是為晶片的串聯和批量表征而設計的。該ST500提供快速、自動化的測量功能,從而在晶圓測試過程中實現高吞吐量和高效率。它可以提供晶圓表面質量、地形和粗糙度的綜合分析。該系統用戶友好,可輕松集成到現有制造環境中。NANOVEA晶圓測試和計量工具的其他示例包括ST400、ST200和ST100模型,每種模型都提供滿足不同客戶需求的特定特性和功能。這些資產提供了可靠、準確的數據，使半導體制造商能夠優化其工藝，提高產品質量。