二手 NIKON AM-601M #9209442 待售

NIKON AM-601M是一種先進的晶片測試和計量設備，設計用於精確測量半導體晶片的性能。該系統采用先進的自動化算法，能夠對這些材料進行精確和準確的檢查，產生高度可靠的結果。該設備的設計易於編程，可將其整合到現有生產線或實驗室實驗中。AM-601M具有較大的成像場和高分辨率攝像頭,可以檢查各種基於晶圓的設備。這臺自動化機器能夠獲得各種均勻和非均勻特性的高度精確的測量，包括位移、距離、寬度、高度、面積、壓力等。NIKON AM-601M利用數字顯微鏡工具，可以捕獲和分析精確度高達1納米的微觀圖像。這一資產還采用了先進的光學圖像處理算法，使其能夠準確檢測半導體結構形成中的誤差。它進一步配備了掃描電子顯微鏡，使其能夠獲得晶圓試樣表面的3D成像。該模型還能夠檢測晶片表面的光學缺陷，包括裸斑、眩光和小模具尺寸的不匹配。AM-601M還配備了激光源，使其能夠測量通常難以用其他方法觀察到的激光標誌，如丘陵和碟形。NIKON AM-601M能夠執行各種計量任務,包括晶圓應力、精加工測量、步高和輪廓平滑度。它還能夠測量薄膜在晶片上的厚度和檢測薄膜缺陷。NIKON-AM-601M有一個用戶友好的計算機界面，這有助於使測量盡可能準確。此外,它的高級自動化有助於減少流程所需的時間。NIKON AM-601M被用於廣泛的行業，包括精密工程、電子制造、消費品、汽車和航空航天工業。其堅固的設計確保了長期的可靠性和耐用性,使其成為高級晶圓測試和計量操作的理想選擇。