二手 NIKON FX-501F #293620093 待售
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NIKON FX-501F晶圓測試和計量設備是一種用途廣泛、功能強大的技術，用於世界各地的半導體制造商和實驗室。這項高端技術旨在測量、檢查和分析晶圓、芯片和其他半導體元件的表面和內部結構。該系統結合了兩種先進技術----一種是二維表面測量單元，另一種是三維模對數據庫測量機器----即使使用復雜的晶片和微芯片也能提供準確和可靠的結果。FX-501F使用光學濾鏡和鏡子的組合來精確測量微觀結構的不同地形和幾何特征。工具可以檢測小表面缺陷，並測量設備表面的寬度、長度、高度和不規則性。資產還能夠通過許多不同的方法檢測任何非均勻性，包括差分幹涉對比度顯微鏡（DICM）、橢圓偏振顯微鏡（EM）、光譜峰值識別（SPI）和半導體封裝檢查（CPI）。模型的高級6軸級允許精確測量和3D成像。舞臺在所有三個軸上移動，並由高精度步進電機引導，提供高分辨率和重復性的高速測量。此外，NIKON FX-501F使用先進的光學器件，如激光束掃描，從而提高了分析的精度和速度。該設備還提供了具有重復性和自動化的可靠測試，成為挑戰晶圓檢測和半導體計量的理想選擇。FX-501F還提供了許多數據分析和報告功能,使其成為晶圓測試和計量的高效解決方案。它具有幾種高級分析功能,如統計過程控制（SPC）分析、六西格瑪分析、自動表面識別和分類（ASRC）以及自動模具到數據庫分析。用戶還可以添加帶有實時數據的自定義報告,從而最大程度地控制測量結果。總體而言，NIKON FX-501F晶圓測試和計量系統是一種用於晶圓測試、檢查和分析的強大而可靠的技術。它提供了高度準確和可重復的結果,以及廣泛的數據分析和報告功能。FX-501F具有如此先進的功能,非常適合半導體制造商和實驗室。
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