二手 NIPPON NAFS-3070P #9078494 待售

NIPPON NAFS-3070P
ID: 9078494
優質的: 2007
Non-contact 3D measurement device, 2007.
NIPPON NAFS-3070P晶圓測試和計量設備是半導體及相關行業廣泛任務的有效工具。它是一個多維系統,能夠為現代邏輯集成和MEMS應用對晶片和其他元件進行電氣測試和光學檢查。NAFS-3070P的晶圓測試功能包括Power Device IC的參數測量、噪聲測量、熱阻測試和對100V的高壓測試,以及高頻切換特性。該裝置最多有六個測試通道和四個測量模塊,每個通道有一個高速掃描模塊,每秒最多可測試60個設備。NIPPON的光學檢查能力NAFS-3070P利用先進的顯微鏡、光學檢查、3D成像和成像處理技術。它提供了一次拍攝高達1000倍差分放大倍率的高分辨率圖像的能力。它還配備了一個集成的自動對焦機,使它能夠為每個樣本拍攝多個幀,而不必為每個樣本重置焦點。NAFS-3070P還提供了高級用戶界面,使用戶能夠快速設置測試、分配測量設置和捕獲數據。該工具提供了廣泛的「報告導出」功能,包括PDF和EXCEL電子表格。此外,NIPPON NAFS-3070P還具有全面的數據管理功能,可以快速輕松地存儲和訪問數據。NAFS-3070P晶圓測試和計量資產是各種半導體及相關應用的一個極其強大和通用的工具。它提供可靠高效的性能,經濟高效且易於使用。憑借先進的光學檢測能力、全面的數據存儲和管理能力,NIPPON NAFS-3070P是半導體公司、研究實驗室等同類企業的絕佳選擇。
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