二手 NOVA NovaScan 3090 Next #293654378 待售

NOVA NovaScan 3090 Next Wafer Metrology Equipment是一種高分辨率、精密的自動化系統,旨在快速準確地精確測量、分析和檢查半導體集成電路芯片或晶片。該單元能夠快速準確地測試多達4「和6」晶片,並提供一系列選項,包括自動傾斜系列和雙向掃描。NovaScan 3090 Next利用先進的光學顯微鏡機與14位自動晶圓滑塊處理器。這樣可以進行快速測試,測量一系列特征,包括臨界尺寸和覆蓋、晶圓輪廓和平坦度、平均粗糙度和微缺陷。此工具為與一系列自動化系統集成提供了極好的靈活性,使整個測試和檢查周期能夠輕松而完整地進行管理。這項資產是建立在一個創新的精密顯微鏡，提供了一個極高的分辨率和準確度。優越的光學模型提供了最大的光學性能和一致的精確讀數，無論在顯微鏡內或芯片表面的位置如何。這得到自動圖像采集的支持,這有助於進一步確保準確性和可靠性。此外，NOVA NovaScan 3090 Next是為了滿足晶圓測試和計量的高層次需求而設計的。該設備為數據采集、分析和報告提供高度復雜的圖像處理能力和自動化控制。該軟件包括各種選項，用於定制系統，以滿足特定應用程序的需求，使數據分析和報告各種因素成為可能。這些數據可用於開發高質量的計量解決方案，該解決方案是根據應用程序的確切要求量身定制的。NovaScan 3090 Next Wafer Metrology Unit是一款先進、高性能的機器，提供高精度和精確的測試、分析和檢查。此工具旨在滿足精密晶圓測試和計量的苛刻需求,非常適合廣泛的應用。