二手 OLIN MICROELECTRONIC MATERIALS 25 #9036608 待售

OLIN MICROELECTRONIC MATERIALS 25是一種用於半導體產品和晶圓結構的晶圓測試和計量設備。該系統允許用戶以± 2%的高精度測量低至納米級的薄膜厚度。該裝置用於測試多種不同圖樣的晶片，如薄膜、光刻膠、光致發光、光伏和擴散。該單元配有屏蔽顯微鏡、X射線源、X射線檢測器、快門釋放裝置和機械手，用於處理和測量晶圓樣品。該機基於X射線熒光（XRF）技術。這個過程涉及用X射線照射樣品，從樣品內原子的內殼躍遷產生一束高能電子束。這些電子然後激發原子的外殼電子，被檢測為熒光X射線。該熒光信號用於測量樣品薄膜厚度。該工具還包括其他功能，如光譜映射、3D成像和膠片分析。光譜映射特征用於分析檢測到的X射線的峰值形狀和相對強度。3 D成像用於測量橫截面曲面輪廓和材料的非均勻性。此外,還利用薄膜分析特征分析薄膜的組成.該資產能夠測量直徑不超過200毫米的基板，樣品厚度從1納米到10微米不等。再者，模型還配備了光學編碼器，它允許機械手以連續運動的方式將樣本旋轉至360°。這為用戶提供了更準確和可重復的數據測量。25是一種先進的晶圓測試和計量設備,旨在以簡單高效的方式提供高精度的結果。該系統是分析和優化工業應用新材料設計的絕佳工具。