二手 ORC MEM-5926D #9017908 待售

ORC MEM-5926D晶圓測試和計量設備是一個強大的獨立系統，用於先進的表面測試和計量應用。全自動單元旨在為測量尺寸、缺陷覆蓋範圍、表面地形以及半導體模具等晶圓器件的其他關鍵指標提供快速、準確的精度。該機采用先進、自動化的測量工具組合，獲得準確可靠的數據。它具有高分辨率照相機和先進的光學器件,可捕捉到具有細微特征的顯微照片,如劃痕、針孔、凹坑和其他表面特征。它還提供了多種圖像處理選項，如圖像銳化濾鏡、對比度增強和其他圖像增強技術。該工具配備了高級3-Axis級和高分辨率光學顯微鏡，可以捕捉平面內和平面外的測量結果。這樣可以確保樣品與測量值精確對齊，並在計量分析中提供高精度。此外，該資產還包括用於晶圓上測試和數據收集的各種探針。MEM-5926D還提供X射線熒光（XRF）作為電介質層元素成分分析的測試選項,因為它能夠測量樣品中元素對X射線的吸收。此功能使用戶能夠快速準確地確定圖層的平均組成。ORC MEM-5926D提供全面的數據輸出和分析功能。它使用戶能夠通過錯誤分析和缺陷評估生成全面的質量報告。除了它的其他特性外，模型還可以安裝各種軟件工具如Defect Analysis和Wafer Repair軟件，允許用戶分析故障原因，自主修復有缺陷的表面。MEM-5926D晶圓測試和計量設備旨在在各種測試條件下提供可靠的結果。它非常適合大容量半導體生產線、研究機構和其他需要精確測試和計量數據的設置。