二手 PRINCETON APPLIED RESEARCH / PAR 410 #77229 待售

PRINCETON APPLIED RESEARCH/PAR 410是一種用途廣泛、創新的晶圓測試和計量設備，能夠在生產過程中對晶圓上的許多不同參數進行高精度測量。該系統采用先進的光學配置，包括幾種激光器、照相機和檢測器，以極大的精度和一致性來測量晶片的電學和光學特性。PAR 410具有測量半導體晶片廣泛的物理和電氣特性的能力。電性能包括介電特性、電阻率和移動性等。光學性質包括反射率和透射率，可用於表征晶片的化學和機械性質。該單元還能夠測量具有高度空間分辨率和可重復性的圖案化晶片。PRINCETON APPLIED RESEARCH 410還為用戶提供了廣泛的功能,例如設備編程界面（DPI）、用戶友好的圖形界面和強大的測試庫。DPI使最終用戶能夠控制機器上的各種設備並自定義測試程序,以及從工具下載和存儲數據。此外,用戶友好的圖形界面使用戶能夠輕松地快速可視化數據,從而有助於分析數據的結果。資產中包含的強大測試庫使用戶能夠快速輕松地為其測量的晶片設置測試,從而減少了配置模型的時間,並增加了分析結果的時間。此外，設備還有一個自動校準系統，使用戶能夠輕松地重新校準設備，以確保測量的準確性和可靠性。綜上所述，410晶片測試計量機是測量半導體晶片多種物理和電氣性能的通用可靠解決方案。其先進的光學配置、強大的測試庫、用戶友好的圖形界面以及自動校準工具，使其成為半導體晶片質量控制和生產測試的理想選擇。