二手 RAYTEX RXW-1226SFI #293591340 待售

RAYTEX RXW-1226SFI是一種晶圓測試和計量設備,用於測量各種參數,包括薄片電阻、薄片電阻均勻性、薄片厚度、PRAM和應力。該系統具有200 mm x 200 mm的大型工件托架,可自動校準工件表面,從而實現全自動測試。此外,該單元還提供可編程掃描速度和加速度,允許用戶根據特定應用程序自定義測試參數。該單元包括變焦150至500倍的12.3 MP立體光學顯微鏡，小傾斜角調節範圍，自動調焦。它還能夠執行SEM泄漏測量，從而能夠對微觀結構和缺陷進行詳細分析。顯微鏡還包括一個獨立的晶片卡盤和XY級，允許在兩個軸中精確測量，分辨率為0.1um/step。RAYTEX RXW 1226SFI還配備了真空晶片蒸發器，使晶片從樣品載體直接轉移到顯微鏡上。此功能可快速裝卸工件,大大減少安裝時間和工作量。該單元與多種材料兼容，使得在測試過程中可以同時使用有機和無機薄膜。RXW-1226SFI非常適合需要精確測量各種基板上的微結構和缺陷的應用。它的直觀界面和自動校準可以方便操作和快速測試，而其500倍光學顯微鏡和SEM泄漏分析能力可以對樣品進行詳細分析。該機的真空晶片蒸發器還允許快速裝卸，能夠快速測試和減少設置時間。