二手 RAYTEX RXW-1226SFI #293614929 待售

ID: 293614929
晶圓大小: 12"
Wafer inspection system, 12" (2) FOUP Load ports Proprietary laser beam delivery system (2) Arm robots ULPA Filter Function: Edge scan Inspection optics Optics stage: XY-Θ Wafer staging chuck Illumination Wafer sorted Controller hardware Network server Non-contact pre-alignment VISION SYSTEM CCD Camera Notch inspection included Platform with wafer mapping scanners EZ System Upgrade: Top side and back side EZ Camera Auto zoom Joystick control 2006-2008 vintage.
RAYTEX RXW-1226SFI是一種晶圓測試和計量設備,旨在為各種晶圓尺寸、變形和接觸類型提供可靠且可重復的結果。該系統特別適合測試和分析單個模具和整個晶片表面狀況。它提供了廣泛的功能,例如高分辨率無損成像、各種自動化測試功能以及全面的數據分析功能。該單元將12英寸晶片級與實時伺服控制相結合,創造出一個高度精確和動態的測試環境。穩定機器可確保晶片對齊並牢固地固定,從而實現精確的測量。該級與高分辨率成像工具集成在一起,可從每個模具和整個晶片表面捕獲多達5500幀數據。該成像資產還能夠使用獲得專利的邊緣檢測算法捕獲每個模具的輪廓。RAYTEX RXW 1226SFI包括針對各種晶圓變形和接觸類型的一系列自動測試功能。自動化軟件套件提供用於數據分析、統計驗證和日誌文件生成的功能。這樣就可以立即審查和解釋測試結果。該型號還支持適應性強的處理器內核,並直接與外部網絡連接。設備采用安全和維護協議進行設計。完全集成的空氣過濾系統可管理工作環境,同時雙重隔離可確保與電源的安全連接。內置維護功能可確保其性能達到峰值。RXW-1226SFI是一個通用、準確的晶圓測試和計量單元。它提供高分辨率成像、自動化測試功能、全面的數據分析以及可靠和可重復的結果。憑借其全面的安全和維護協議,它是測試和分析各種尺寸、變形和接觸類型的晶片的理想解決方案。
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