二手 RUDOLPH FE VII/IV #9373048 待售

RUDOLPH FE VII/IV是一種晶圓測試和計量設備，設計用於研發（R&D）和生產應用。該系統為背面和正面的非接觸晶片檢測提供了一個通用平臺。該單元支持多種直徑和封裝類型，並有大量選擇的傳感器和測量頭來檢測各種過程不符合。它能夠測量晶片級特性如顆粒缺陷濃度、表面地形、電性能、化學成分和蝕刻深度。該機采用尖端專有技術和多傳感器成像技術，用於晶片的快速檢測和表面計量。它能夠檢查多達30 x 30 cm2/die,並且可以支持多達8個不同的部分,從而能夠更快、更準確地提取數據。此外，它還通過新的顯微鏡圖像采集提供非接觸和非接觸測量能力。該工具還提供了一種獨特的專利多軸掃描技術,它帶有可變掃描速度和加速度輪廓。這樣可以確保消除所有曲率,並提供全面的模具級報告來評估晶圓在生產和設計中的性能。此外，借助快速的CMOS線掃描攝像機和大視野，實現了高達300 mm/秒的數據采集和掃描速度。此外,該資產還提供了一個內置軟件包和EWI工具套件,用於快速分析和評估半導體晶片。它還為圖像分割和識別提供了一個集成的視覺分析模型。此外,它還具有一整套用於自動生成報告、標記、缺陷分類和統計分析的工具。最後，它還具有許多自動化工具，如機器人握把、機器視覺和其他機器人功能。總之，RUDOLPH FE VII/IV是一種強大的晶片測試和計量設備，為非接觸和非接觸晶片檢查提供無與倫比的精度和速度。它將先進的專有技術與多傳感器成像相結合，支持從研發到生產應用的各種金剛石晶片檢測。憑借其一套集成工具，它提供了一個快速、可靠、全面的平臺來評估和分析半導體晶圓。