二手 RUDOLPH MetaPulse 200 #9227397 待售

RUDOLPH MetaPulse 200是一種用於半導體器件的精密晶圓測試和計量設備。它能夠對晶片上的IC芯片和光刻模式進行復雜的測量，包括光學平坦、厚、薄和多材料晶片。該系統提供了光學成像、自動運動階段以及表面輪廓分析和缺陷分析的組合。大場離軸成像單元拍攝全芯片圖像。另外還有一個3軸壓電級,用於在聚焦、設置和XY圖像采集過程中增加精確控制。使用自動曲面輪廓測量功能,自動聚焦和設置向導可幫助減少晶圓測試過程中的操作員時間。它旨在幫助開發和表征表面特征和微觀結構。它利用多反射原理來獲取表面噪聲和像素噪聲降低的圖像，從而實現精確的數據采集。該機器還包含一個超高分辨率表面剖面圖模塊，用於檢測小表面不規則。先進的算法用於分析表面拓撲結構和測量缺陷的深度和大小。該模塊還可用於分析結構的物理幾何形狀，以及精確測量物理和電氣特性。該工具的軟件提供了多種功能強大的分析工具,使研究人員能夠快速準確地可視化、分析和報告晶圓樣本。它直觀的圖形用戶界面使用戶能夠輕松分析數據，並與其他系統共享發現。除了數據采集和分析，RUDOLPH META PULSE 200還提供了將數據導出到各種第三方軟件包進行進一步處理的可能性。該資產是晶圓測試和計量的一種經濟高效且可靠的解決方案，其設計目的是滿足最苛刻的半導體制造商的需求。它的準確性、速度和靈活性是專門為提供可靠的結果而不犧牲性能而設計的。它是超精度測量晶片的理想模型。