二手 RUDOLPH MetaPulse 200 #9302043 待售

ID: 9302043
晶圓大小: 8"
優質的: 2003
Thin film measurement system, 8" 2003 vintage.
RUDOLPH MetaPulse 200是一種通用的晶圓測試和計量解決方案,設計用於半導體器件的高精度、表征。該設備結合了高分辨率成像、晶圓測試、參數分析和非接觸式探測等功能,實現了對當今先進半導體器件的全面表征和質量控制。直觀、用戶友好的觸摸屏界面使導航功能強大的軟件變得輕松。用戶可以從四種不同的工具配置中進行選擇,每種工具配置都是根據應用程序的特定要求量身定制的,並根據他們查詢的特定參數定制系統。在每種配置中,用戶都可以訪問為優化各種半導體器件參數的精度和分辨率而開發的一套高級算法。RUDOLPH META PULSE 200具有高分辨率顯微鏡成像單元,能夠對底部不對稱、粘合墊、過渡、內部空隙和針孔等微小特征進行詳細評估。認識到現代設備架構的靈敏度,MetaPulse 200還結合了可靠的非接觸式探測機,用於可靠的信號采集。利用集成的數據處理工具,用戶可以快速獲得對設備性能參數的可靠了解。附加的晶圓測試模塊還提供了設備可靠性、速度、噪聲裕度和電源效率的精確測量。該工具利用自動探測模塊和先進的模式發生器,能夠在標稱和參數設置中對設備進行全面的晶圓級測試。該資產具有超高真空(UHV)的晶圓處理,這使得可重復和可靠的測試結果與最小的接觸力。對於更高級的應用,META PULSE 200還提供掃描光譜反射計(SSR)對晶圓表面進行深度光譜分析。用戶還可以訪問參數測試模式,以幫助他們識別設備中的可靠性和參數錯誤。利用這些內置工具,用戶可以更準確地確定其設備的功能極限。RUDOLPH MetaPulse 200是一種功能強大的晶圓測試和計量模型,提供一系列功能,旨在確保現代半導體器件的精確量化。從高分辨率成像到非接觸式探測,設備為用戶提供了快速可靠地進行各種分析的能力,使其成為任何晶圓測試實驗室的寶貴資產。
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