二手 RUDOLPH MetaPulse 300 #9365999 待售

ID: 9365999
晶圓大小: 12"
優質的: 2007
Thickness measurement system, 12" With dual FOUP load ports Open cassettes for handling, 8"-12" Dual front opening unified pod loaders: 13/15 Slots for handling, 12" Ultrafast laser output: 300 mW at 800 nm Diode pump power: 2 W Laser light source damaged Missing parts: Mainframe EFEM Module Chiller and inverter 2007 vintage.
RUDOLPH MetaPulse 300是一個最先進的晶圓測試和計量平臺,設計用於在半導體制造過程之前和期間提供快速、精確的晶圓測量。該設備具有許多先進的特性和技術,使其能夠準確測量和分析晶圓電介質、金屬和其他材料的電氣特性。在其核心,MetaPulse 300利用三個時域反射測量通道來測量材料性質和測試晶片本身的完整性。該系統將這些通道與先進的脈寬調制技術結合起來,精確分析和測量了高達8400 MHz的材料。而且,該單元可以測量和識別廣泛的參數,包括材料的電阻、電容、阻抗和介電強度。機器的用戶控制和界面設計為用戶友好且易於理解。大型彩色觸摸屏顯示屏有助於引導用戶完成測試和測量,同時以圖形、測試數據和其他實時可視化的形式提供有價值的反饋。此外,該工具與現有的測試和計量設備(如站點控制系統)快速、無縫地集成在一起,從而實現了測試設置的平穩、高效自動化。RUDOLPH MetaPulse 300還支持一系列測試條件和溫度範圍從-40°C到150°C,因此可以用於高溫應用。此外,資產還可以檢測和測量各種電壓電平和頻率,最高可達500 MHz,並具有出色的降噪能力,從而支持高精度測試。該平臺還具有強大的測試平臺環境和嵌入式質量保證功能,旨在保證可重復和可靠的結果。總體而言,MetaPulse 300是一種先進的晶圓測試和計量模型,可以提供對半導體材料電性能的強大洞察。該設備具有多通道反射儀和獨立的測試平臺,能夠精確測量各種材料參數,成為任何生產環境下的寶貴工具。
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