二手 RUDOLPH MetaPulse 300 #9401107 待售
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RUDOLPH MetaPulse 300是一個高度精確可靠的晶圓測試和計量系統。具體而言,可用於分析測量先進微電子應用中所用元件的薄膜塗層質量,如光學、光伏器件。MetaPulse 300為薄膜層和大面積基板提供了卓越的分析能力。與傳統的破壞性測試技術相比,RUDOLPH MetaPulse 300采用非接觸式、無破壞性的光學技術來測量高精度和高分辨率的光學性能。這使得它特別適合於測量基板上的薄膜層,以及創建結晶方向、缺陷和其他效果的地圖。MetaPulse 300附帶了一個專有的RUDOLPH 4D軟件包,它提供了一個全面的計量解決方案。這包括內置的高分辨率RGB-激光系統和高端光學。因此,它可以識別和測量晶片上的光學特性和缺陷。此外,它還可以提供對基板表面的完整表征,如晶體取向圖和詳細的表面地形圖。RUDOLPH MetaPulse 300也可用於測量薄膜層上的電性能,如電阻和電容。這樣做不會以任何方式損壞或影響樣品。它還包括用於缺陷檢測和測量的高級算法,可以幫助檢測和診斷任何異常。最重要的是,MetaPulse 300具有高度的可配置性,並且可以根據任何應用程序進行定制。它專為在大批量生產環境中使用而設計,並配有直觀、用戶友好的界面。它也被設計用於要求苛刻的應用,如潔凈室和溫度控制室,在那裏穩定性和準確性很重要。總體而言,RUDOLPH MetaPulse 300提供了全面、無損、高精度的晶圓測試和計量解決方案,使其成為測量所有類型薄膜層和基板性能的寶貴工具。
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