二手 RUDOLPH MetaPulse G #293752830 待售
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RUDOLPH MetaPulse G是一種革命性的晶圓測試和計量設備，設計用於生產半導體晶圓的最佳性能。該系統為晶片各種參數的表征提供了一整套綜合測量，從缺陷檢測到模具尺寸和形狀、屈服優化等等。MetaPulse G提供多種晶圓測量功能，包括非接觸式計量、熱成像、晶圓缺陷分析和定制檢查。非接觸式計量法使用高分辨率和自動化技術快速、精確地測量晶圓，其特征可達納米範圍。這非常適合於接觸探針和非接觸探針的模具尺寸、形狀、螺距和間隙測量。熱成像特征快速識別晶片上模具的位置，呈現出每個模具特性的全貌。此級別的細節和準確性提供了更好的產量優化和成本節約。晶片缺陷分析特征利用先進算法快速、準確地檢測、標記和分類晶片缺陷。這樣可以確保更高的質量和產量。自定義檢查功能允許用戶指定專用參數，將熱成像和自定義算法等各種技術結合起來，提供令人難以置信的全面晶圓分析。總體而言，RUDOLPH MetaPulse G為晶圓測試和計量提供了一個高效而強大的單元。它為用戶提供高級和自動化功能,以確保準確測量特征和缺陷檢測。這臺機器的多功能性非常適合半導體生產的用戶，因為它提供了一系列晶圓測量能力來滿足每一個需求。
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