二手 RUDOLPH MetaPulse-III 300XCu #293625425 待售

RUDOLPTH RUDOLPH MetaPulse-III 300XCu晶圓測試和計量設備是一種高度先進的自動化工具，旨在協助半導體晶圓的表征和檢驗。它擁有一個300 mm的大型晶圓平臺，具有改進的掃描能力和高精度的測量精度。其獨特的多步方法全面概述了晶圓參數和特性，分析了組成、結晶度、圖樣密度和表面平滑度等所有相關參數。該系統的工作原理是首先測量電阻和電壓等電特性，然後對晶片進行詳細的物理分析。在此之後，工具就能確定晶片的厚度、平整度等特性。進一步的細節，例如材料的均勻性，可以使用單元的高級光學器件來確定。此外，該技術還可以確定可能出現缺陷甚至材料特性變化的區域。每次掃描可實現多達8個樣品的掃描速度，從而實現半導體晶圓表征的快速過程。此外，RUDOLPH METAPULSE III 300XCU機器能夠測量晶圓到亞微米精度，最小分辨率為0.2 μ m。該工具也易於操作。圖形用戶界面（GUI）允許用戶快速高效地控制資產,以及查看和分析模型提供的結果。這種最先進的技術還允許用戶在一系列不同的自動化或手動分析技術之間進行選擇。除了速度和精度，RUDOLPTH METAPULSE III 300 XCU還提供卓越的連通性。該設備與多個不同的軟件平臺兼容,可以輕松有效地執行數據導出和比較。該系統還允許對自動測試過程進行遠程操作、監視和控制。RUDOLPTH MetaPulse-III 300XCu晶圓測試和計量單元提供了一整套功能，非常適合識別和表征半導體晶圓。其高度先進和自動化的特點，加上機器的速度和精確度，確保了卓越的效果。該工具易於使用的GUI和出色的連接提供了一種在短時間內訪問可靠數據的簡便方法。