二手 RUDOLPH MetaPulse-III 300XCu #293633969 待售

RUDOLPH MetaPulse-III 300XCu是一種頂級晶圓測試和計量設備。它作為測量和分析關鍵器件參數的綜合儀器，包括電導率、介電常數、電場以及半導體的其他重要性質。RUDOLPH METAPULSE III 300XCU是為最大的通用性而設計的,允許測試不同尺寸（3至6英寸）的晶片,而無需額外的設備或工具。其先進的計算能力有助於準確、一致的測量和報告。該系統有兩個獨立的腔室，允許在受控環境中分別進行激發、發射和散射等操作。該單元還具有獨特的檢測功能，允許用戶快速準確地分析每個晶片上的一系列臨界微小特征，例如拓撲或材料組成的差異。它可以同時操作多達七個全分辨率光學顯微鏡，並提供更高的采集效率。METAPULSE III 300 XCU的核心是一系列專有探測器,其設計目的是盡可能最好地整合收集到的數據。這樣可以對半導體材料進行更精確的讀數和更精確的表征。該陣列在晶體學和被測試晶片的整體表面特性方面也提供了卓越的精度。MetaPulse-III 300XCu晶片測試和計量機是測量、分析和表征半導體晶片的完美工具。它堅固可靠,在測試操作中提供前所未有的準確性、效率和靈活性。RUDOLPH METAPULSE III 300 XCU憑借其尖端技術、可定制選項和集成探測器,非常適合任何半導體測試和計量要求。