二手 RUDOLPH MP 300 #9098967 待售
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RUDOLPH MP 300是為尖端半導體制造而開發的強大晶圓測試和計量設備。它使用先進的工業傳感器和探測器來識別RUDOLPH MP300晶片的關鍵制造特性和特性，如模具組成、晶片屈服、均勻性和電性能。利用自對準級和獲得專利的微米公差晶片定位系統，該機可以同時準確可靠地測量和記錄多達450個不同尺寸晶片的特性。MP-300使用高分辨率相機捕獲和分析晶片圖像以及專門的照明技術來測量每個晶片的表面和層壓。板載計算機程序允許該單元測量和比較每個晶片的模具和線型，以及測量溫度和其他環境因素。此外，機器還可以分析每個晶片的精確電性能，以確定其在微處理器、內存和邏輯電路中的適用性。其先進的算法還可以識別晶圓上的潛在缺陷，並有助於檢測過度的水分狀況。MP300還包括一個先進的控制引擎,它允許自動晶圓測試、測量收集和分析以及生成報告。該工具可以被編程為在大型晶片陣列上同時執行多個測試，從而可以對大量測試進行快速而準確的分析。此外,每個RUDOLPH MP-300都可以與其他系統（如烤箱和數據系統集成）集成,從而實現遠程數據收集和報告。MP 300是在競爭激烈的半導體制造業中測量、測試和記錄晶片性能的理想機器。其先進的傳感器、探測器和先進的算法能夠全面、準確地描述各種制造特性,使其成為過程控制和分析的寶貴工具。其可靠、可重復的性能使其成為有保證的半導體制造的絕佳選擇。
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