二手 RUDOLPH MP 300 #9257356 待售

RUDOLPH MP 300晶圓測試和計量設備是一種自動化、高性能、多用途的解決方案,用於當今先進半導體晶圓的測試和計量。該系統提供了廣泛的功能,包括但不限於非接觸式光學測距、表面地形、電氣探測和缺陷檢查。RUDOLPH MP300提供了一種用於生產晶圓測試中3D顯微成像的高精度光學幹涉儀。這種幹涉儀由幾種激光組成，用來測量晶圓特征的高度和深度，包括顛簸、溝槽和其他深層特征。幹涉儀的測量精度為10nm，放大倍率範圍為5倍至20,000x。MP-300配備了多種高分辨率CCD攝像頭和各種光學硬件，用於精確的2D成像和缺陷檢查。該單元還通過其非接觸式測量技術為用戶提供高速電氣探測能力。它能夠以1ms的精度測量微量電阻，並以2ms的精度記錄IC上的正向/反向電流。MP300還提供了廣泛的計量解決方案,包括表面地形測量、尺寸分析和薄膜厚度測量。它使用高分辨率CCD相機成像，使用納米分辨率激光進行尺寸測量。該機器高度可靠，可進行高精度、全場地形測量，精度為0.7nm。MP 300還為用戶提供了一個直觀的用戶界面，用於工具的控制和分析。用戶可以從多種設置、測試模式和測量技術中進行選擇，資產會根據用戶的要求調整設置。這種用戶友好的模型使測試和計量工作能夠快速高效地完成。RUDOLPH MP-300晶圓測試和計量設備是當今先進半導體晶圓測試和計量的先進且高度可靠的解決方案。RUDOLPH MP 300系統具有全面的性能和精度，是生產中快速高效晶圓測試和計量的理想選擇。