二手 RUDOLPH MP 300 #9388218 待售

RUDOLPH MP 300是專業自動化晶圓測試和計量設備，非常適合制造工廠和研發實驗室（R&D）。具有測量晶片表面地形特性、尺寸和電性能的能力。它與經過優化的專利計量技術集成在一起，以測試半導體器件行業中最具挑戰性的薄膜和塗層。這項技術包括輪廓掃描、電壓對比度成像（VCI）和傾斜測量,可提供符合國際標準的高質量測量。此外，該系統還具有光學計量學等特點，它提供實時的現場數據，並對晶片進行深入的缺陷表征。它掃描晶片高達8英寸，精度為1.5納米。該單元可配置為執行廣泛的計量任務，如監測沈積過程、缺陷分析、邊緣測量、非接觸電阻率測量和低或高k介電膜厚度測量。直觀的圖形用戶界面（GUI）允許用戶快速啟動、控制和監控實驗，輕松設置不同的計量任務。這臺機器包含多種功能，如自動化工具支持、攝像頭控制、數據存儲和自動標線，使操作員能夠快速準確地獲得結果。RUDOLPH MP300還采用了獨特的光學成像技術，保證了卓越的測量精度和缺陷分辨率。資產的設計基於開放式體系結構，這使得與現有系統集成變得簡單。它的模塊化允許用戶從各種模塊中進行選擇，以匹配各個測量要求。為確保最大效率,該模型采用了高保真測量設備。它融合了業界最先進的技術，包括主動反饋控制、波掃描等高速方式。這有助於確保統一和準確的結果。該系統還通過減少人工幹預量和消除對用戶校準的需求，加強了工作流程和成本降低。MP-300提供可靠和準確的測試結果,從而改進了過程控制。它為用戶提供有關晶片表面特性或缺陷的全面報告。該單位還以高質量的計量結果值得信賴的聲譽為後盾，符合各大行業認證。