二手 RUDOLPH MP 300 #9407340 待售

ID: 9407340
優質的: 2010
Thin film thickness measurement system 2010 vintage.
RUDOLPH MP 300是一種最先進的晶圓測試和計量設備,設計為快速、可靠和準確。該系統能夠對晶圓性能測試中的極限進行廣泛的測試,包括電氣、磁性和光學檢查。RUDOLPH MP300利用自動晶片處理和探測技術來確保可能的最佳測試結果。MP-300具有兩個加載端口、兩個工作站和兩個prober基礎。這兩個負載端口允許為任何大小的晶片配置設備,並且這兩個工作站可以在單個晶片上快速運行多個測試。兩個prober堿基允許同時測試多達四個晶片。MP300還利用自動聚焦和曝光設置來保證在廣泛的晶圓幾何中獲得精確的測試結果。RUDOLPH MP-300還具有用於優化晶圓測試自動化的高級軟件。RUDOLPH投影檢測機(RPIS)軟件允許自動圖像捕獲、圖像分析和編輯,以便精確檢測缺陷。RPIS可以識別和分類尺寸高達1微米的缺陷,使其成為當今晶圓計量中最高精度的理想選擇。MP 300還包括強大的測試自動化、晶圓處理和數據分析功能。RUDOLPH Controlled Prober Tool (RCPS)提供快速可靠的晶圓處理和探測,而RUDOLPH Data Analysis Asset (RDAS)則提供實時分析和圖形。所有這些功能協同工作,以提高準確性、減少測試時間和成本,並確保獲得最高質量的結果。為了獲得最大的可靠性,RUDOLPH MP 300采用了三屏蔽高可靠性激光頭,並通過了符合最嚴格工業標準的認證。RUDOLPH MP300也符合CE和UL標準,適合任何類型的環境。總體而言,MP-300提供了一組強大的特性和功能,使其成為滿足晶圓測試和計量需求的絕佳選擇。從易用性到數據可視化功能,再到可靠性,MP300每次都一定能提供卓越的效果。
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