二手 RUDOLPH MP1-300 #9401099 待售

RUDOLPH MP1-300是一種先進的晶圓測試和計量設備,旨在提供最高的精細特征分析分辨率。這個先進的系統利用了微觀定位階段、高分辨率光學顯微鏡以及一系列測量晶圓基板上小特征的綜合測量選項。MP1-300具有靈活的微定位級,能夠達到15米的行程範圍、亞微米級分辨率以及集成的XYZ電動掃描表。這種精確的階段定位裝置允許將樣品的各個區域精確放置在顯微鏡下，同時實現精確的測量並保證可重復性。RUDOLPH MP1-300還提供了具有亞微米分辨率的高分辨率光學顯微鏡。這種先進的顯微鏡能夠快速和精確地測量晶圓基板上的微結構。此外,MP1-300內的數字圖像自動化使用戶可以使用數字場景分析算法訪問各種測量選項。這些算法提供晶圓模式、工藝缺陷和其他微觀結構的自動分析，同時不斷監測樣品基板的各層。此外，RUDOLPH MP1-300還配備了高速數據采集、圖形用戶界面和測序。數據采集用於從光學顯微鏡捕獲采樣數據，使用戶能夠快速檢查測量和趨勢。此外,圖形用戶界面為快速瀏覽功能提供了直觀的用戶體驗。測量的排序使機器能夠自動從采樣區域移動到采樣區域，從而提高測量的速度和準確性。總體而言，MP1-300是晶圓測試和計量需求的完美工具。它提供出色的測量能力,並為各種測量提供精確、準確和可重復性。此外,資產的快速數據采集使其成為分析研究和生產應用中的復雜特征集的理想選擇。