二手 RUDOLPH MP1-300XCU #293585585 待售

RUDOLPH MP1-300XCU是半導體和微電子工業使用的一種領先的晶圓測試和計量設備。它對晶片基板的臨界參數，如應力、電氣特性和圖像質量，提供了一個快速而準確的測量。MP1-300XCU利用晶圓表面的非接觸、無損3D成像來精確測量表面幾何形狀和地形。該數據用於識別和消除外延沈積、清潔和引入缺陷引起的不均勻性和異常。該系統還具有先進的低功率亞微米分辨率光源，用於精確可靠地測量晶圓表面特性。該單元設計用於處理各種晶圓尺寸範圍。其健壯的光學機器允許用戶測量寬範圍的晶圓厚度，從不到100納米（nm）到超過5毫米（mm）。其強大的數據采集和自動化功能使得在一個會話中測量多個晶片成為可能。這樣可最大程度地減少刀具利用率並節省時間,同時提供精度和準確性。RUDOLPH MP1-300XCU還具有一個全面的分析軟件包，它對收集到的數據提供詳細的統計分析。這使用戶能夠快速輕松地識別非均勻性或其他異常的區域,並微調其生產過程以提高產量和提高產品質量。該工具也是高度可定制的，允許用戶根據自己的特定需求和偏好定制資產。例如，儀器附帶了光學鏡頭的選擇，允許用戶定制相機的視野、分辨率和對焦精度。MP1-300XCU是晶圓測試和計量的行業領先解決方案。它為測量表面特性提供了卓越的精度、速度和可靠性,使其成為半導體和微電子制造商及相關行業的理想解決方案。